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LEEB/里博 探头 F1 1支
订货编码:FX9334
制造商型号:F1
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OLYMPUS/奥林巴斯 超声波探头 V102-RM 1个
订货编码:AA3785029
制造商型号:V102-RM
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LEEB/里博 高温耦合剂 GW-I 1支
订货编码:AA4256773
制造商型号:GW-I
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LEEB/里博 超声波探伤仪标准校准试块 CSK-IB(ZB) 1块
订货编码:AA2420488
制造商型号:CSK-IB(ZB)
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LEEB/里博 超声波探伤仪工业标准校准试块 CSK-IIIA 1块
订货编码:AA4817660
制造商型号:CSK-IIIA
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LEEB/里博 超声波工业不锈钢探伤试块 RB-1 1块
订货编码:AC2249413
制造商型号:RB-1
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LEEB/里博 超声波探伤仪标准校准试块 CSK-IIIA 1块
订货编码:AA2423538
制造商型号:CSK-IIIA
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LEEB/里博 磁粉探伤仪电磁轭探头 D型 1台
订货编码:AC2296147
制造商型号:D型
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LEEB/里博 磁粉探伤提升力试块 N1 45N提升力 1块
订货编码:AC2371260
制造商型号:N1
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LEEB/里博 超声波探伤仪对比试块 CS-2-8# 1块
订货编码:AA3117565
制造商型号:CS-2-8#
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LEEB/里博 超声波探伤仪标准校准试块 CSK-IA翻转架 1个
订货编码:AA2420200
制造商型号:CSK-IA翻转架
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LEEB/里博 X射线探伤暗室定时器 DLT-1501 1台
订货编码:AC8271042
制造商型号:DLT-1501
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LEEB/里博 超声波探伤仪标准校准试块 CSK-IB(ZB)支架 1个
订货编码:AA2420489
制造商型号:CSK-IB(ZB)支架
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LEEB/里博 超声波探伤仪对比试块 CS-2-10# 1块
订货编码:AA3117567
制造商型号:CS-2-10#
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LEEB/里博 超声波探伤仪标准校准试块 CSK-IA支架 1个
订货编码:AA2420199
制造商型号:CSK-IA支架
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LEEB/里博 超声波探伤仪对比试块 CS-2-11# 1块
订货编码:AA3117568
制造商型号:CS-2-11#
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LEEB/里博 磁粉探伤仪灵敏度试块 A1 1套
订货编码:AC2301356
制造商型号:A1
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LEEB/里博 超声波探伤仪对比试块 CS-2-9# 1块
订货编码:AA3117566
制造商型号:CS-2-9#
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LEEB/里博 超声波探伤仪标准校准试块 CSK-IB(ZB)翻转架 1个
订货编码:AA2420490
制造商型号:CSK-IB(ZB)翻转架
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LEEB/里博 超声波工业不锈钢探伤试块 RB-3 1块
订货编码:AC2249772
制造商型号:RB-3
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